Kategorie

Metody pomiarów w elektrostatyce Powiększ do pełnego rozmiaru

Metody pomiarów w elektrostatyce

  • Autor : Ryszard Kacprzyk 
  • ilość stron : 222
  • rok : 2013
  • oprawa : miękka
  • ISBN : 978-83-7493-771-9
  • Wydawca : Politechnika Wrocławska 

Więcej szczegółów

2 dostępnych

Ostatnie egzemplarze!

25,12 zł

Obniżka!

-16%

29,90 zł

Doświadczenie zebrane przez autora w ciągu 40 lat działalności dydaktycznej, naukowo-badawczej oraz inżynieryjno-eksperckiej wykazuje, że zrozumienie zarówno przez studentów, jak i kadrę inżynieryjno-techniczną znanych od stuleci zjawisk i praw obowiązujących w obszarze elektrostatyki bywa często na poziomie niepozwalającym im na sformułowanie problemu. Podstawom opisu stanu naładowania obiektu, jak i zjawiskom występującym w obszarze elektrostatyki poświęcono kilka publikacji w języku polskim, cytowanych w tej książce. Problematyka ta jest również przedmiotem wykładów z elektrostatyki stosowanej, które autor prowadzi na Wydziale Elektrycznym Politechniki Wrocławskiej od wielu lat.

Niniejsza książka wprowadza Czytelnika w obszar zagadnień metrologicznych związanych z pomiarami wielkości klasycznych, pozwalających opisać stan naładowania szeroko pojętego obiektu oraz jego zmiany w funkcji czasu. Wiarygodne pomiary oraz ich wyniki stanowią podstawę oceny stanu obiektu, a w konsekwencji stanu zagrożenia, jakości materiału czy wyrobu bądź technologii, które ten stan opisuje.

Książka jest przeznaczona dla specjalistów oraz praktyków, dla których zjawiska związane z elektrycznością statyczną są zawodową codziennością. Będzie również przydatna dla studentów wydziałów elektrycznych. Może także zainteresować specjalistów metrologów tak ze względu na specyfikę badanego obiektu (obiekt ze stałym ładunkiem), jak i stosowaną aparaturę czy metody pomiarowe. Specyfika ta bywa w wielu przypadkach nieuchwytna nawet dla oferentów profesjonalnej aparatury pomiarowej.

Mam nadzieję, że treść książki wypełni istotną lukę w obszarze elektrostatyki stosowanej, zwłaszcza w jej metrologicznym aspekcie.
[Od Autora]